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Ion Beam concentrato di fresatura e Microscopia Elettronica a Scansione di tessuto cerebrale
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Neurosciences
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Journal JoVE Neurosciences
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
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Ion Beam concentrato di fresatura e Microscopia Elettronica a Scansione di tessuto cerebrale

DOI:
10.3791/2588-v

•

08:57 min

•

July 06, 2011

•

, ,
1Centre of interdisciplinary electron microscopy,École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Traduction automatique

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Questo protocollo descrive come il tessuto cerebrale resina incorporati possono essere preparati e ripreso nelle tre dimensioni del fascio di ioni focalizzato, microscopio elettronico a scansione.

Tags

Focussed Ion Beam MillingScanning Electron MicroscopyFIB/SEM ProtocolAldehydes FixationHeavy Metal StainingOsmium TetroxideUranyl AcetateDehydrationResin InfiltrationUltramicrotomeGlass KnivesBlock PreparationVertical Face MillingBackscattered Electron ImagingSerial ImagingIsotropic VoxelsCell Ultrastructure Analysis

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