Journal
/
/
Fokuserad jonstråle Fräsning och Svepelektronmikroskopi av hjärnvävnad
Journal JoVE
Neurosciences
This content is Free Access.
Journal JoVE Neurosciences
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Traduction automatique

Detta protokoll beskriver hur harts inbäddade hjärnvävnad kan förberedas och avbildas i de tre dimensioner i fokuserad jonstråle, svepelektronmikroskop.

Vidéos Connexes

Read Article