Journal
/
/
Odaklı İyon Işın Freze ve Beyin Dokusu Taramalı Elektron Mikroskobu
Journal JoVE
Neurosciences
This content is Free Access.
Journal JoVE Neurosciences
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Traduction automatique

Bu protokol, taramalı elektron mikroskobu, reçine gömülü beyin dokusu, odaklanmış iyon demeti üç boyutlu olarak hazırlanmış ve yansıması nasıl açıklamaktadır.

Vidéos Connexes

Read Article