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Atom Probe tomografi Studier på Cu (I, Ga) SE<sub> 2</sub> Grain Boundaries
Journal JoVE
Ingénierie
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Journal JoVE Ingénierie
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
DOI:

09:51 min

April 22, 2013

, , , , ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Traduction automatique

I dette arbeidet, beskriver vi bruken av atom-sonde tomografi teknikk for å studere korngrensene fra absorberen lag i en CIGS solcelle. En ny tilnærming for å forberede atomet probespisser inneholder ønsket korn grensen med en kjent struktur blir også presentert her.

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