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Chapitres
- 00:00Titre
- 01:36Reference Interferometer Construction
- 03:01Free Spectral Range Measurement
- 03:57Fiber Pulling
- 06:46Preparation and Delivery of Solutions
- 12:43System Configuration and Interconnections
- 14:06Nanoparticle Detection
- 14:45Post-processing of Data
- 15:32Conclusion
Eine Referenz-Interferometer-Technik, die ausgelegt ist, um unerwünschte Laser Jitterrauschen für nanodetection entfernen, wird für die Sondierung eine ultra-hohe Güte Microcavity genutzt. Anleitungen für die Montage, Einrichtung und Datenerfassung vorgesehen, neben der Messung für die Angabe der Hohlraum Qualitätsfaktor.
