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Chapitres
- 00:00Titre
- 01:36Reference Interferometer Construction
- 03:01Free Spectral Range Measurement
- 03:57Fiber Pulling
- 06:46Preparation and Delivery of Solutions
- 12:43System Configuration and Interconnections
- 14:06Nanoparticle Detection
- 14:45Post-processing of Data
- 15:32Conclusion
Una tecnica interferometro di riferimento, che è progettato per rimuovere rumore indesiderabile jitter laser per nanodetection, è utilizzata per sondare un fattore microcavità ultra-alta qualità. Istruzioni per l'assemblaggio, l'installazione e l'acquisizione dei dati sono forniti, accanto al processo di misurazione per specificare il fattore di qualità della cavità.
