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कूलम्ब अशुद्धियों के साथ स्कैनिंग टनलिंग सूक्ष्मदर्शी अध्ययन के लिए गेट-ट्यून करने योग्य ग्राफीन उपकरणों का निर्माण
 
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कूलम्ब अशुद्धियों के साथ स्कैनिंग टनलिंग सूक्ष्मदर्शी अध्ययन के लिए गेट-ट्यून करने योग्य ग्राफीन उपकरणों का निर्माण

Article DOI: 10.3791/52711-v • 11:42 min • July 24th, 2015
July 24th, 2015 •
1,2, 1, 1, 1, 1, 1,3, 1, 1, 1, 1, 1, 4, 4, 1,5,6, 1,5,6, 1,5,6
1Department of Physics, University of California at Berkeley, 2Department of Chemistry, University of California at Berkeley, 3Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of California at Berkeley, 4National Institute for Materials Science (Japan), 5Materials Sciences Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, 6Kavli Energy NanoSciences Institute, University of California at Berkeley and Lawrence Berkeley National Laboratory

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इंजीनियरिंग अंक 101 भौतिकी graphene इलेक्ट्रोस्टैटिक gating स्कैनिंग टनलिंग सूक्ष्मदर्शी (एसटीएम) Coulomb अशुद्धता रासायनिक वाष्प जमाव (सीवीडी) पाली (मिथाइल methacrylate) (PMMA) स्थानांतरण तार संबंध
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