/
/
Använda Synchrotron Radiation Microtomography att undersöka Multi skala Tredimensionella Microelectronic paket
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Chapitres
- 00:05Titre
- 01:28Steps for Performing Tomography Scans at Beamline 8.3.2 (ALS, LBNL)
- 04:02Setting up the Scan Parameters Using the Data Acquisition Computer
- 04:54Results: Multi-scale Features Imaged in an Entire Micro-electronic Package Using Synchrotron Radiation Microtomography
- 06:11Conclusion
För denna studie synkrotronstrålning mikro-tomografi, en icke-förstörande tredimensionell avbildningsteknik, används för att undersöka en hel mikroelektroniska paket med en tvärsnittsarea på 16 x 16 mm. På grund av synkrotron höga flöde och ljusstyrka provet avbildades på bara tre minuter med en 8,7 um rumslig upplösning.
