基于渐逝场光声：光学性能评估在表面

在这里，我们提出来估算材料和表面使用光声效应与全内反射相结合的光学性质的协议。这种技术渐逝场为基础的光声可以被用来创建一个光声测量系统来估计材料的厚度，松厚度和薄膜的折射率，并探讨它们的光学性质。