Journal
/
/
Yüksek Sıcaklık Plazma Tanı olarak Kullanım için X-ışını Görüntüleme Kristal Spektroskopisi Uygulanması
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic
DOI:

06:46 min

August 25, 2016

, ,

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 00:53Mounting the High Resolution X-ray Crystal Imaging Spectrometer with Spatial Resolution (HIREXSR) Hardware
  • 04:12Results: Inverted Plasma Temperature and Torodial Velocity Profiles from Argon Helium-like Spectra
  • 05:38Conclusion

Summary

Traduction automatique

X-ışını spektrumları yüksek sıcaklık plazmalar hakkında bilgi bir zenginlik sağlar. Bu makale uzamsal bir tokamak plazmada orta atom numarası elemanlarının hidrojenkarbonat ve helyum gibi iyonları görüntülemek için kullanılan X-ışını spektrometresi görüntüleme yüksek dalga boyu çözünürlüğü çalışmasını sunuyor.

Vidéos Connexes

Read Article