इस पत्र अल्ट्रा ठीक छोटाबीजवाला और nanocrystalline सामग्री एक स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन एक मानक इलेक्ट्रॉन backscatter विवर्तन प्रणाली से सुसज्जित माइक्रोस्कोप का उपयोग करने का सूक्ष्म चिह्नित करने के लिए एक विस्तृत तरीका प्रदान करता है। धातु मिश्र धातुओं और परिष्कृत microstructures पेश खनिजों इस तकनीक का इस्तेमाल विश्लेषण कर रहे हैं, इसके संभावित अनुप्रयोगों की विविधता को दर्शाता है।