Journal
/
Ingénierie
/
Metingen van de bodemkoolstof door Neutron-Gamma analyse in statische en modi scannen
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
Measurements of Soil Carbon by Neutron-Gamma Analysis in Static and Scanning Modes
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Metingen van de bodemkoolstof door Neutron-Gamma analyse in statische en modi scannen

DOI:
10.3791/56270-v

•

07:51 min

•

August 24, 2017

•

, , ,
1National Soil Dynamics Laboratory,Agricultural Research Service, United States Department of Agriculture

Chapitres

  • 00:05Titre
  • 00:53Inelastic Neutron Scattering (INS) System Preparation
  • 02:34INS System Calibration
  • 05:17Field Soil Measurements
  • 06:08Results: Field Measurements of Carbon Content
  • 07:00Conclusion

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

Hier presenteren we het protocol voor in situ meting van de bodemkoolstof met behulp van het neutron-gamma techniek voor aanspreekpunt metingen (statische modus) of veld gemiddelden (scanmodus). Ook beschrijven we de bouw van het systeem en gegevens behandeling procedures uit te werken.

Tags

Keywords: Soil CarbonNeutron-gamma AnalysisStatic ModeScanning ModeInelastic Neutron ScatteringGamma Ray AnalysisSoil Carbon MeasurementRestricted AreaNeutron GeneratorPower LevelData AcquisitionDetector CalibrationCaesium-137 SourceCalibration PitsSand-carbon Mixtures

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

check_url/fr/56270?article_type=v

Fabrication, verdichting, en Replica Molding van 3D Carbon Nanotube Microstructuren
check_url/fr/56270?article_type=v

Speciatie en biologische beschikbaarheid Metingen van Milieu Plutonium gebruik van Diffusion in Thin Films
check_url/fr/56270?article_type=v

Kwantificering van waterstof concentraties in Functionele Lagen en Bulk Materials door middel van diepte- met Nuclear Reaction Analysis
check_url/fr/56270?article_type=v

In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)
check_url/fr/56270?article_type=v

Uitgebreide karakterisatie van Extended Defecten in Semiconductor Materials door een Scanning Electron Microscope
check_url/fr/56270?article_type=v

Het scannen van SQUID Studie van Vortex manipulatie door Local Contact
check_url/fr/56270?article_type=v

Twee-weg Valorisatie van hoogovenslakken: Synthese van neergeslagen calciumcarbonaat en Zeolitische Heavy Metal Adsorbent
check_url/fr/56270?article_type=v

Precisie Frezen van koolstof nanobuis Bossen Met behulp van Low Pressure Scanning Electron Microscopy
check_url/fr/56270?article_type=v

High Temperature Fabricage van nanostructuur yttriumoxide-gestabiliseerde Zirconia (YSZ) Steigers door<em> In Situ</em> Carbon Templating xerogels
check_url/fr/56270?article_type=v

Fabricage van 3D Koolstof Micro-Elektromechanische Systemen (C-MEMS)

Read Article