Journal
/
Ingénierie
/
Et 3D-trykt kammer for økologisk optoelektroniske enhed nedbrydning test
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
A 3D-printed Chamber for Organic Optoelectronic Device Degradation Testing

Et 3D-trykt kammer for økologisk optoelektroniske enhed nedbrydning test

DOI:
10.3791/56925-v

•

08:29 min

•

August 10, 2018

•

, , ,
1Department of Engineering Physics,McMaster University, 2Department of Physics, Engineering Physics and Astronomy,Queen’s University

Chapitres

  • 00:04Titre
  • 00:44The Chamber Parts and Top Chamber Assembly
  • 03:13Bottom Chamber Assembly
  • 05:22Final Assembly
  • 06:05Current-Voltage Measurements of Individual Pixels on the Device
  • 07:09Results: Current Density Voltage Measurements of a 6 Diode Configuration
  • 07:42Conclusion

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

Vi præsenterer her, en protokol for konstruktion, fremstilling og brug af en simpel, alsidig 3D-trykt og kontrolleret atmosfæriske kammer til optisk og elektriske karakterisering af luft-følsomme økologiske optoelektroniske enheder.

Tags

Keywords: 3D PrintingOrganic OptoelectronicsEnvironmental ChamberDevice Degradation TestingRapid PrototypingVersatile DesignCost-effectiveModular ComponentsO-ringRetaining RingThreaded InsertsOrganic Device Testing

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

check_url/fr/56925?article_type=v

Styring af størrelse, form og stabilitet af supramolekylære polymerer i vand
check_url/fr/56925?article_type=v

Karakterisering for rekombination effekter i en Liquid ioniseringskammeret Anvendes til dosimetri af en radiosurgical Accelerator
check_url/fr/56925?article_type=v

Metoder til måling af Orientering og Rotation Sats for 3D-trykte Partikler i Turbulence
check_url/fr/56925?article_type=v

Test af Nanopartikel Frigivelse fra et Composite indeholdende nanomateriale Brug en afdeling System
check_url/fr/56925?article_type=v

Scanning Light Scattering Profiler (SLPS) -baseret metode til kvantitativ evaluering af fremadrettet og bagudlysudspredning fra intraokulære linser
check_url/fr/56925?article_type=v

Lokalisering af overfladefejl ved struktureret opvarmning ved hjælp af laserprojiceret fototermisk termografi
check_url/fr/56925?article_type=v

Forberedelse af flydende krystal netværk for makroskopisk oscillerende bevægelse fremkaldt af lys
check_url/fr/56925?article_type=v

Atmosfærisk tryk fabrikation af store lag rektangulære SnSe flager
check_url/fr/56925?article_type=v

En Standard og pålidelig metode til at fremstille todimensionale nanoelektronik
check_url/fr/56925?article_type=v

Metodeudvikling for kontaktfri resonans hulrum dielektriske spektroskopiske undersøgelser af celluloseholdigt papir

Read Article