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제조 및 반 데르 발스 Heteroepitaxy에 따라 유연한 Ferroelectric 요소에 대 한 측정 방법
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A Fabrication and Measurement Method for a Flexible Ferroelectric Element Based on Van Der Waals Heteroepitaxy
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제조 및 반 데르 발스 Heteroepitaxy에 따라 유연한 Ferroelectric 요소에 대 한 측정 방법

DOI:
10.3791/57221-v

•

10:40 min

•

April 08, 2018

•

, , , ,
1Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University, 2Department of Physics,Indian Institute of Science, 3Department of Materials Science and Engineering,National Chiao Tung University

Chapitres

  • 00:00Titre
  • 00:41Fabricate the Flexible PZT Thin Film
  • 02:19Ferroelectric Characterization: Bending Test
  • 04:28Ferroelectric Characterization: Thermal Stability
  • 05:19Ferroelectric Characterization: Bending Cyclability Tests
  • 06:23Results: Ferroelectric Properties Under Bent and High Temperature
  • 08:41Conclusion

Summary

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이 논문에서 우리 직접 아직 코피는 성장 하는 프로토콜 유연한 리드 지르코늄 타이타늄 메모리 요소에 현재 모스크바 운 모.

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Keywords: Flexible Ferroelectric ElementVan Der Waals HeteroepitaxyPZT Thin FilmMica SubstratePLDSRO Bottom ElectrodePlatinum Top ElectrodeFerroelectric CharacterizationBending Test

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