Journal
/
/
قياسات عمر الناقل في أشباه الموصلات من خلال الأسلوب تسوس فوتوكوندوكتيفيتي الميكروويف
Journal JoVE
Ingénierie
This content is Free Access.
Journal JoVE Ingénierie
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
DOI:

07:38 min

April 18, 2019

, ,

Chapitres

  • 00:04Titre
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

Traduction automatique

كواحدة من المعلمات المادية الهامة في أشباه الموصلات، يقاس عمر الناقل هنا عبر بروتوكول باستخدام الأسلوب تسوس فوتوكوندوكتيفيتي الموجات الدقيقة.

Vidéos Connexes

Read Article