Journal
/
/
Taşıyıcı ömür boyu ölçümlerde mikrodalga Photoconductivity çürüme yöntemi aracılığıyla yarı iletkenler
JoVE Journal
Engineering
This content is Free Access.
JoVE Journal Engineering
Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method
DOI:

07:38 min

April 18, 2019

, ,

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
  • 01:44Preparation of the Measuring Equipment
  • 03:36Measurement and Data Processing
  • 05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
  • 06:29Conclusion

Summary

Automatic Translation

Yarı iletkenler önemli fiziksel parametrelerden biri, taşıyıcı ömür boyu burada mikrodalga photoconductivity çürüme yöntemi kullanan bir iletişim kuralı ölçülür.

Related Videos

Read Article