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使用串行块面和聚焦的Ion光束扫描电子显微镜进行有针对性的研究
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Journal JoVE Biologie
Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy
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使用串行块面和聚焦的Ion光束扫描电子显微镜进行有针对性的研究

DOI:
10.3791/59480-v

•

09:09 min

•

August 10, 2019

•

, , ,
1VIB Bio Imaging Core, 2VIB Inflammation Research Center, 3Department of Molecular Biomedical Research,UGent

Chapitres

  • 00:04Titre
  • 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
  • 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
  • 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
  • 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
  • 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
  • 08:46Conclusion

Summary

Traduction automatique

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在这里,我们提出了一个协议,有效地结合串行块面和聚焦电束扫描电子显微镜的目标领域。这允许在三维中进行高效的搜索,并在大型视野中定位罕见事件。

Tags

Serial Block Face Scanning Electron Microscopy (SBF-SEM)Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM)3D UltrastructureArabidopsis ThalianaRoot TipsSample PreparationFixationPost-fixationOsmium TetroxideRuthenium RedThiocarbohydrazide (TCH)DehydrationMicrowavePhosphate Buffer

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