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利用飞行时二次离子质谱法成像金属颜料界面的腐蚀
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Chimie
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Imaging Corrosion at the Metal-Paint Interface Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
DOI:

07:24 min

May 06, 2019

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Chapitres

  • 00:04Titre
  • 00:55Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) Analysis of the Metal-Paint Corrosion Interface
  • 05:32Results: Comparison of Corroded and Non-Corroded Aluminum-Paint Interfaces
  • 06:16Conclusion

Summary

Traduction automatique

与暴露在空气中的试样相比, 采用飞行时间二次离子质谱法, 在铝合金的金属漆界面上进行化学映射和腐蚀形态。

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