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एक वेफर-स्केल टेस्ट स्टेशन पर सिएन इंटीग्रेटेड ऑप्टिकल चरणबद्ध सरणी का लक्षण वर्णन
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Characterization of SiN Integrated Optical Phased Arrays on a Wafer-Scale Test Station
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एक वेफर-स्केल टेस्ट स्टेशन पर सिएन इंटीग्रेटेड ऑप्टिकल चरणबद्ध सरणी का लक्षण वर्णन

DOI:
10.3791/60269-v

•

05:57 min

•

April 01, 2020

•

, , , , , ,
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 00:36Optical Coupling: Fiber Alignment
  • 01:25Optical Coupling: Optical Phase Array (OPA) Output Imaging
  • 02:14Beam Optimization and Steering
  • 04:05Beam Divergence Measurement Imaging
  • 04:30Results: Representative Silicon Nitride (SiN) Integrated OPA Characterization
  • 05:20Conclusion

Summary

Traduction automatique

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यहां, हम ऑप्टिकल चरणबद्ध सरणी वाले एसआईएन एकीकृत फोटोनिक सर्किट के संचालन का वर्णन करते हैं। सर्किट के पास अवरक्त में कम विचलन लेजर बीम उत्सर्जित करने और उन्हें दो आयामों में चलाने के लिए उपयोग किया जाता है।

Tags

Keywords: SiN Integrated Optical Phased ArraysWafer-scale CharacterizationAutomated TestingBeam-steering CircuitsProber StationGrating CouplerFar-field ImagingPhase ControlBeam SteeringRing Resonators

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