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3 डी गहराई प्रोफ़ाइल माध्यमिक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री का उपयोग कर अलग अशुद्धियों का पुनर्निर्माण
Journal JoVE
Chimie
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Journal JoVE Chimie
3D Depth Profile Reconstruction of Segregated Impurities Using Secondary Ion Mass Spectrometry
DOI:

07:10 min

April 29, 2020

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Chapitres

  • 00:00Introduction
  • 00:57Defect Selective Etching
  • 02:09Scanning Electron Microscopy
  • 02:50Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 05:34Results: Oxygen Counts in a Cuboid
  • 06:29Conclusion

Summary

Traduction automatique

प्रस्तुत विधि बताती है कि माध्यमिक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री से संबंधित माप कलाकृतियों को कैसे पहचानें और हल करें और साथ ही ठोस राज्य सामग्री में अशुद्धियों / डोपेंट के यथार्थवादी 3 डी वितरण प्राप्त करें।

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