Journal
/
/
3D-dybdeprofilrekonstruksjon av segregerte urenheter ved bruk av sekundær ionmassespektrometri
Journal JoVE
Chimie
This content is Free Access.
Journal JoVE Chimie
3D Depth Profile Reconstruction of Segregated Impurities Using Secondary Ion Mass Spectrometry
DOI:

07:10 min

April 29, 2020

, , , ,

Chapitres

  • 00:00Introduction
  • 00:57Defect Selective Etching
  • 02:09Scanning Electron Microscopy
  • 02:50Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 05:34Results: Oxygen Counts in a Cuboid
  • 06:29Conclusion

Summary

Traduction automatique

Den presenterte metoden beskriver hvordan man identifiserer og løser måleartefakter relatert til sekundærionmassespektrometri samt oppnå realistiske 3D-fordelinger av urenheter/dopanter i faststoffmaterialer.

Vidéos Connexes

Read Article