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Sondare l'attività elettrochimica superficiale dei nanomateriali utilizzando un microscopio elettrochimico a scansione microscopia a forza atomica ibrida (AFM-SECM)
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Journal JoVE Chimie
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
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Sondare l'attività elettrochimica superficiale dei nanomateriali utilizzando un microscopio elettrochimico a scansione microscopia a forza atomica ibrida (AFM-SECM)

DOI:
10.3791/61111-v

•

08:31 min

•

February 10, 2021

•

, , ,
1Department of Civil and Environmental Engineering,New Jersey Institute of Technology

Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 01:17Sample Preparation for AFM-SECM
  • 02:01Setup and Operation of AFM-SECM
  • 06:24Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
  • 07:33Conclusion

Summary

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La microscopia a forza atomica (AFM) combinata con la microscopia elettrochimica a scansione (SECM), vale a dire, AFM-SECM, può essere utilizzata per acquisire simultaneamente informazioni topografiche ed elettrochimiche ad alta risoluzione sulle superfici dei materiali su scala nanometrica. Tali informazioni sono fondamentali per comprendere proprietà eterogenee (ad esempio, reattività, difetti e siti di reazione) su superfici locali di nanomateriali, elettrodi e biomateriali.

Tags

Keywords: NanomaterialsAtomic Force MicroscopeScanning Electrochemical MicroscopeAFM-SECMElectrochemical ActivityNanoparticlesNanobubblesSample PreparationRedox MediatorElectrochemical Sample CellESD Protection

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