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Sondeo de la superficie de la actividad electroquímica de los nanomateriales utilizando un microscopio híbrido de barrido de fuerza atómica-microscopio electroquímico (AFM-SECM)
Journal JoVE
Chimie
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Journal JoVE Chimie
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
DOI:

08:31 min

February 10, 2021

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Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 01:17Sample Preparation for AFM-SECM
  • 02:01Setup and Operation of AFM-SECM
  • 06:24Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
  • 07:33Conclusion

Summary

Traduction automatique

La microscopía de fuerza atómica (AFM) combinada con la microscopía electroquímica de barrido (SECM), es decir, AFM-SECM, se puede utilizar para adquirir simultáneamente información topográfica y electroquímica de alta resolución en superficies de materiales a nanoescala. Esta información es fundamental para comprender las propiedades heterogéneas (por ejemplo, reactividad, defectos y sitios de reacción) en superficies locales de nanomateriales, electrodos y biomateriales.

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