Journal
/
/
إعداد الجسيمات النانوية لتحليل TOF-SIMS و XPS
Journal JoVE
Chimie
This content is Free Access.
Journal JoVE Chimie
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

, , , , , , ,

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

يتم تقديم عدد من الإجراءات المختلفة لإعداد الجسيمات النانوية لتحليل السطح (صب قطرة ، طلاء الدوران ، ترسب من المساحيق ، والتبريد). نناقش التحديات والفرص والتطبيقات الممكنة لكل طريقة ، خاصة فيما يتعلق بالتغيرات في خصائص السطح الناجمة عن أساليب الإعداد المختلفة.

Vidéos Connexes

Read Article