Journal
/
/
ToF-SIMS और XPS विश्लेषण के लिए नैनोकणों की तैयारी
Journal JoVE
Chimie
This content is Free Access.
Journal JoVE Chimie
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

, , , , , , ,

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

सतह विश्लेषण के लिए नैनोकणों को तैयार करने के लिए कई अलग-अलग प्रक्रियाओं को प्रस्तुत किया जाता है (ड्रॉप कास्टिंग, स्पिन कोटिंग, पाउडर से जमाव, और क्रायोफिक्सेशन)। हम प्रत्येक विधि की चुनौतियों, अवसरों और संभावित अनुप्रयोगों पर चर्चा करते हैं, विशेष रूप से विभिन्न तैयारी विधियों के कारण सतह गुणों में परिवर्तन के बारे में।

Vidéos Connexes

Read Article