Journal
/
/
Förberedelse av nanopartiklar för ToF-SIMS och XPS-analys
Journal JoVE
Chimie
This content is Free Access.
Journal JoVE Chimie
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

, , , , , , ,

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

Ett antal olika procedurer för att förbereda nanopartiklar för ytanalys presenteras (droppgjutning, spinnbeläggning, deponering från pulver och kryofixering). Vi diskuterar utmaningar, möjligheter och möjliga tillämpningar av varje metod, särskilt när det gäller förändringar i ytegenskaperna som orsakas av de olika beredningsmetoderna.

Vidéos Connexes

Read Article