This content is Free Access.
Chapitres
- 00:04Introduction
- 00:46Array Generation
- 01:42Sample Sectioning
- 02:23Array Sectioning and Transfer
- 03:53Scanning Electron Microscopy (SEM)
- 04:16Imaging Region Definition
- 06:37Auto Function Configuration and Image Acquisition
- 07:27Results: Representative Targeted Acquisition of Volume Information
- 09:02Conclusion
Описана подготовка лент серийных сечений и их сбор на большой передаточной опоре для использования в качестве образцов массивной томографии, а также автоматизированные процедуры визуализации в сканирующем электронном микроскопе. Протокол позволяет проводить скрининг, извлечение и целенаправленную визуализацию локальных, редких событий и сбор больших объемов данных.
