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Chimie
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電子顕微鏡によるピソメーク精度原子位置追跡
Journal JoVE
Chimie
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This content is Free Access.
Journal JoVE
Chimie
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated.
Click here for the English version.
電子顕微鏡によるピソメーク精度原子位置追跡
DOI:
10.3791/62164-v
•
15:04 min
•
July 03, 2021
•
Leixin Miao
,
Adrian Chmielewski
,
Debangshu Mukherjee
,
Nasim Alem
1
Department of Materials Science & Engineering
,
The Pennsylvania State University
,
2
Center for Nanophase Materials Sciences
,
Oak Ridge National Laboratory
Chapitres
00:00
Introduction
01:23
Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
09:17
Physical Information Extraction
12:22
Representative Results
14:41
Conclusion
Summary
Traduction automatique
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Türkçe (Turkish)
Traduction automatique
この研究は、原子分解能透過電子顕微鏡イメージングにおける原子位置追跡のワークフローを提示する。このワークフローは、オープンソースのMatlabアプリ(EASY-STEM)を使用して実行されます。
Tags
Atomic Position Tracking
Electron Microscopy
Aberration Correction
STEM Imaging
Atomic Resolution
Lattice Strain
Defects
Image Denoising
Drift Correction
Atom Column Quantification
Overlapping Atoms
MATLAB Application
EasySTEM
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