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Serielle Block-Face-Rasterelektronenmikroskopie (SBEM) zur Untersuchung dendritischer Stacheln
Journal JoVE
Neurosciences
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Journal JoVE Neurosciences
Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (SBEM) for the Study of Dendritic Spines
DOI:

11:16 min

October 02, 2021

, , ,

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 01:56Sample Contrasting
  • 05:29Dehydration and Resin Embedding
  • 08:02Trimming and Mounting
  • 09:12Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy Imaging
  • 09:47Representative Results: Dendritic Spine Analysis Using Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy
  • 10:35Conclusion

Summary

Traduction automatique

Die serielle Block-Face-Rasterelektronenmikroskopie (SBEM) wird angewendet, um dendritische Stacheln im murinen Hippocampus abbilden und analysieren zu können.

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