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डेंड्रिटिक कताई के अध्ययन के लिए सीरियल ब्लॉक-फेस स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (SBEM)
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Journal JoVE Neurosciences
Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (SBEM) for the Study of Dendritic Spines
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डेंड्रिटिक कताई के अध्ययन के लिए सीरियल ब्लॉक-फेस स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (SBEM)

DOI:
10.3791/62712-v

•

11:16 min

•

October 02, 2021

•

, , ,
1Laboratory of Imaging Tissue Structure and Function,Nencki Institute of Experimental Biology of Polish Academy of Sciences, 2Laboratory of Molecular Basis of Behavior,Nencki Institute of Experimental Biology of Polish Academy of Sciences

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 01:56Sample Contrasting
  • 05:29Dehydration and Resin Embedding
  • 08:02Trimming and Mounting
  • 09:12Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy Imaging
  • 09:47Representative Results: Dendritic Spine Analysis Using Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy
  • 10:35Conclusion

Summary

Traduction automatique

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सीरियल ब्लॉक-फेस स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (SBEM) को मूर्ति पर लागू किया जाता है और मुरीन हिप्पोकैम्पस में डेंड्रिटिक कताई का विश्लेषण किया जाता है।

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Serial Block-face Scanning Electron MicroscopyDendritic SpinesSynapsesNeuronal PlasticityLearning And MemorySample PreparationHeavy Metal ContrastingElectron MicroscopyHippocampusCA1 Region

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