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基于半导体的下一代测序平台上非整倍体的植入前基因检测
Journal JoVE
Génétique
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Journal JoVE Génétique
Pre-Implantation Genetic Testing for Aneuploidy on a Semiconductor Based Next-Generation Sequencing Platform
DOI:

09:30 min

August 17, 2022

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Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 00:40Fragment Selection Procedure
  • 02:20Sequencing Template Preparation and Enrichment
  • 05:48Loading the Sample and Sequencing
  • 07:22Results: Whole Genome Amplification Combined with Next-Generation Sequencing for Analysis of Embryo Aneuploidy
  • 08:59Conclusion

Summary

Traduction automatique

该协议介绍了在基于半导体的下一代测序平台上对非整倍性进行植入前基因检测所需的整体实验室内程序。在这里,我们以具有代表性的结果介绍了全基因组扩增、DNA片段选择、文库构建、模板制备和测序工作流程的详细步骤。

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