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优化磁力显微镜分辨率和灵敏度，以可视化纳米级磁畴
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Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains
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优化磁力显微镜分辨率和灵敏度，以可视化纳米级磁畴

DOI:
10.3791/64180-v

•

07:42 min

•

July 20, 2022

•

, , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Physics and Astronomy,University of Delaware, 3Center for Advanced Energy Studies

Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 01:00MFM Probe Preparation and Installation
  • 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
  • 03:27Topography Imaging
  • 04:33MFM Imaging
  • 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
  • 06:58Conclusion

Summary

Traduction automatique

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磁力显微镜（MFM）采用垂直磁化原子力显微镜探头以纳米级分辨率测量样品形貌和局部磁场强度。优化MFM空间分辨率和灵敏度需要在降低提升高度与增加驱动（振荡）振幅之间取得平衡，并且受益于在惰性气氛手套箱中操作。

Tags

Magnetic Force MicroscopyMFMNanoscaleMagnetic DomainsSpin-wave ComputingArtificial Spin IcesMagnetization TexturesHigh-resolution MFMAFM ProbeMagnetic CoatingVertically MagnetizedLaser AlignmentPosition-sensitive DetectorSample Holder

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