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Optimización de la resolución y sensibilidad de la microscopía de fuerza magnética para visualizar dominios magnéticos a nanoescala
Journal JoVE
Ingénierie
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Journal JoVE Ingénierie
Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains
DOI:

07:42 min

July 20, 2022

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Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 01:00MFM Probe Preparation and Installation
  • 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
  • 03:27Topography Imaging
  • 04:33MFM Imaging
  • 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
  • 06:58Conclusion

Summary

Traduction automatique

La microscopía de fuerza magnética (MFM) emplea una sonda de microscopía de fuerza atómica magnetizada verticalmente para medir la topografía de la muestra y la intensidad del campo magnético local con resolución a nanoescala. La optimización de la resolución espacial y la sensibilidad de las máquinas digitales multifuncionales requiere equilibrar la disminución de la altura de elevación con el aumento de la amplitud de la unidad (oscilación), y se beneficia de operar en una guantera de atmósfera inerte.

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