Concurrent conducibilità quantitativa e meccaniche Misure Proprietà dei materiali organici fotovoltaici utilizzando AFM
Summary
Organici fotovoltaici (OPV) i materiali sono per loro natura non omogenea su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV influisce sulle prestazioni dei dispositivi fotovoltaici. In questo articolo, si descrive un protocollo per la misurazione quantitativa di proprietà elettriche e meccaniche dei materiali OPV con sub-risoluzione di 100 nm.
Abstract
Organici fotovoltaici (OPV) i materiali sono per loro natura non omogenea su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV influisce sulle prestazioni dei dispositivi fotovoltaici. Pertanto, la comprensione delle variazioni spaziali nella composizione e proprietà elettriche dei materiali OPV è di fondamentale importanza per lo spostamento in avanti della tecnologia fotovoltaica. 1,2 In questo lavoro, si descrive un protocollo per la misurazione quantitativa di proprietà elettriche e meccaniche dei materiali OPV con sub -100 nm risoluzione. Attualmente, le proprietà dei materiali misurazioni effettuate utilizzando disponibili in commercio a base di tecniche di AFM (PeakForce, AFM conduttivo) generalmente forniscono solo informazioni di tipo qualitativo. I valori di resistenza e modulo di Young misurato con il nostro metodo sul prototipo ITO / PEDOT: PSS/P3HT: PC 61 sistema BM corrispondono bene con i dati della letteratura. Il P3HT: PC 61 miscela BM separa sul PC 61 BM-ricchi e P3HT ricco di domains. Proprietà meccaniche del PC 61 domini ricchi e BM-P3HT-ricchi sono diversi, che consente di attribuzione dominio sulla superficie della pellicola. Soprattutto, combinando i dati meccanici ed elettrici consente per la correlazione della struttura dei domini sulla superficie del film con proprietà elettriche variazione misurata attraverso lo spessore del film.
Introduction
Innovazioni più recenti in termini di efficienza di conversione di potenza (PCE) di fotovoltaico organico (OPV) cellule (spingendo il 10% a livello di cella) 3 di concerto con il rispetto ai processi di produzione ad alto rendimento e basso costo 4 hanno portato i riflettori sulla tecnologia OPV come possibile soluzione per la sfida di fabbricazione economica di celle solari di grande superficie. Materiali OPV sono intrinsecamente disomogenei su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV e le prestazioni dei dispositivi fotovoltaici sono intimamente connessi. Pertanto, la comprensione disomogeneità nella composizione e proprietà elettriche dei materiali OPV è di fondamentale importanza per lo spostamento in avanti della tecnologia OPV. Microscopia a forza atomica (AFM) è stato sviluppato come strumento per misure ad alta risoluzione della topografia di superficie dal 1986. 5 Al giorno d'oggi, le tecniche per le proprietà dei materiali (modulo di Young, 6-10 funzione di lavoro, 11 condottamisure ivity, 12 elettromeccanica, 13-15 ecc) stanno attirando una crescente attenzione. Nel caso di materiali OPV, la correlazione di composizione della fase locale e le proprietà elettriche promettente per rivelare una migliore comprensione del funzionamento interno delle celle solari organiche. 1, 16-17 AFM tecniche basate sono in grado di ad alta risoluzione fase di attribuzione 8 e come proprietà elettriche di mappatura in materiali polimerici. Pertanto, in linea di principio, la correlazione di fase composizione polimerica (attraverso misurazioni meccaniche) 18 e proprietà elettriche è possibile utilizzando tecniche basate AFM. Molte tecniche basate AFM per misure di proprietà meccaniche ed elettriche dei materiali usare l'assunzione di area costante di contatto tra la sonda AFM e la superficie. Questa assunzione spesso non riesce, che risulta in forte correlazione tra topografia superficiale e le proprietà meccaniche / elettriche. Recentemente, una nuova tecnica basata AFM perhigh-throughput misure di proprietà meccaniche (PeakForce) 19 è stato introdotto. TONNO PeakForce (variante del metodo PeakForce) fornisce una piattaforma per misure simultanee di proprietà meccaniche ed elettriche del campione. Tuttavia, il metodo di TONNO PeakForce produce mappe di proprietà meccaniche ed elettriche, che di solito sono fortemente correlati a causa della variabilità dispersi di contatto durante le misurazioni. In questo articolo presentiamo un protocollo sperimentale per la rimozione correlazioni associati con raggio variabile contatto mantenendo misurazioni accurate delle proprietà meccaniche ed elettriche mediante AFM. Attuazione dei risultati del protocollo di misure quantitative di resistenza dei materiali "e modulo di Young.
Protocol
Representative Results
Divulgazioni
The authors have nothing to disclose.
Acknowledgements
MPN è grato al Fellowship Program del direttore di un sostegno finanziario. MPN vuole ringraziare Yu-Chih Tseng di aiuto per lo sviluppo del protocollo per l'elaborazione delle celle solari. Questo lavoro è stato svolto presso il Centro di materiali su nanoscala, un Dipartimento dell'Energia degli Stati Uniti, Office of Science, Ufficio di Basic Funzione utente energia Scienze nell'ambito del contratto n ° DE-AC02-06CH11357.
Materials
| Name of Reagent/Material | Company | Catalog Number | Comments |
| Plextronics inks | Plexcore | PV 1000 | |
| ITO-coated glass substrates | Delta Technologies, Inc | 25 Ohms/sq | |
| 30 MHz synthesized function generator | Stanfor Research Systems | DS345 | |
| Current amplifier | Femto | DLPCA-200 | |
| Multimode AFM | Veeco, Santa Barbara, CA | equipped with Nanoscope-V controller | |
| DAQ card | National Instruments | NI-PCI-6115 | |
| Metal Pt probes | RMNano | 12Pt3008 | |
| MATLAB software | Mathworks | ||
| LabView software | National Instruments |
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