Journal
/
Engineering
/
Utføre in situ lukket celle gassreaksjoner i transmisjonselektronmikroskopet
JoVE Journal
Engineering
Author Produced
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Performing In Situ Closed-Cell Gas Reactions in the Transmission Electron Microscope

Utføre in situ lukket celle gassreaksjoner i transmisjonselektronmikroskopet

DOI:
10.3791/62174-v

•

14:21 min

•

July 24, 2021

•

, , , , , , ,
1Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory, 2Protochips Inc., 3Department of Materials Science & Engineering,University of Michigan, 4Catalytic Carbon Transformation & Scale-up,National Renewable Energy Laboratory, 5Materials Science & Technology Division,Oak Ridge National Laboratory

Chapters

  • 00:00Introduction
  • 01:40E-chip Preparation
  • 05:10Preparation of the CCGR-TEM Holder
  • 06:23Preparation of Experimental Setup
  • 07:59Residual Gas Analyzer (RGA) System
  • 10:52Running the Reaction
  • 12:46Representative Results
  • 13:29Summary

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Her presenterer vi en protokoll for å utføre in situ TEM lukket celle gassreaksjonseksperimenter mens vi beskriver flere ofte brukte prøveprepareringsmetoder.

Tags

In SituClosed-cell Gas ReactionCCGRScanning Transmission Electron MicroscopyCatalystsStructural MaterialsCarbon NanotubesReal-time AnalysisElevated TemperatureAtmospheric PressureSample PreparationPowder DepositionColloidal SuspensionE-chipMask

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/62174?article_type=v

Avslører dynamiske prosesser av materialer i væsker med flytende Cell transmisjonselektronmikroskopi
check_url/62174?article_type=v

In Situ Tidsavhengig Dielektrisk Sammenbrudd i transmisjonselektronmikroskop: En Mulighet til å forstå feilmekanisme i Mikro Devices
check_url/62174?article_type=v

Electron Kanalisering Contrast Imaging for Rapid III-V Heteroepitaxial Karakterisering
check_url/62174?article_type=v

Omfattende Karakterisering av Extended Defekter i halvledermaterialer av en scanning elektronmikroskop
check_url/62174?article_type=v

Studerer dynamiske prosesser av Nano store objekter i flytende ved hjelp av skanning transmisjonselektronmikroskopi
check_url/62174?article_type=v

En metode for å få føljetong Ultrathin deler av mikroorganismer i overføring elektronmikroskop
check_url/62174?article_type=v

Ex-Situ og In Situ undersøkelser av strukturelle transformasjoner: tilfelle av krystallisering av metallisk briller
check_url/62174?article_type=v

Skalerbare Quantum integrerte kretser på superledende todimensjonale Electron gass plattform
check_url/62174?article_type=v

Ett siffer Nanometer elektronstråle Litografi med et avvik-korrigert skanning Transmission elektron mikroskop
check_url/62174?article_type=v

In Situ Transmission Electron Mikroskopi med biasing og fabrikasjon av asymmetriske tverrligger basert på blandet faset a-VOx

Read Article