Rivista
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ध्यान केंद्रित आयन बीम मिलिंग और मस्तिष्क के ऊतकों के इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी स्कैनिंग
JoVE Journal
Neuroscienze
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JoVE Journal Neuroscienze
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
DOI:

08:57 min

July 06, 2011

, ,

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 01:29Sample Fixation and Resin Embedding
  • 04:00Preparing the Sample for the FIB/SEM
  • 05:55Imaging the FIB/SEM
  • 08:03Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
  • 08:40Conclusion

Summary

Traduzione automatica

इस प्रोटोकॉल का वर्णन कैसे राल एम्बेडेड मस्तिष्क के ऊतकों और तैयार किया जा सकता है ध्यान केंद्रित आयन बीम में तीन आयामों में imaged, स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप.

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