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Neuroscienze
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集束イオンビームは、粉砕し、脳組織の走査型電子顕微鏡
JoVE Journal
Neuroscienze
This content is Free Access.
JoVE Journal
Neuroscienze
Focussed Ion Beam Milling and Scanning Electron Microscopy of Brain Tissue
Please note that all translations are automatically generated.
Click here for the English version.
集束イオンビームは、粉砕し、脳組織の走査型電子顕微鏡
DOI:
10.3791/2588-v
•
08:57 min
•
July 06, 2011
•
Graham Knott
,
Stéphanie Rosset
,
Marco Cantoni
1
Centre of interdisciplinary electron microscopy
,
École Polytechnique Fédérale de Lausanne
Capitoli
00:05
Titolo
01:29
Sample Fixation and Resin Embedding
04:00
Preparing the Sample for the FIB/SEM
05:55
Imaging the FIB/SEM
08:03
Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue
08:40
Conclusion
Summary
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このプロトコルは、樹脂の埋め込み脳組織を走査型電子顕微鏡、集束イオンビームの3次元で準備し、画像化する方法について説明します。
Tags
Focussed Ion Beam Milling
Scanning Electron Microscopy
FIB/SEM Protocol
Aldehydes Fixation
Heavy Metal Staining
Osmium Tetroxide
Uranyl Acetate
Dehydration
Resin Infiltration
Ultramicrotome
Glass Knives
Block Preparation
Vertical Face Milling
Backscattered Electron Imaging
Serial Imaging
Isotropic Voxels
Cell Ultrastructure Analysis
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