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Charakterisierung von Oberflächenmodifikationen mittels Weißlicht-Interferometrie: Anwendungen in der Ion Sputtern, Laserablation, und Tribologie Experimente
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JoVE Journal Ingegneria
Characterization of Surface Modifications by White Light Interferometry: Applications in Ion Sputtering, Laser Ablation, and Tribology Experiments
DOI:

11:47 min

February 27, 2013

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Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 02:42Measurement of Wear Scar Volume using Optical Interferometry
  • 07:07Volume Analysis: Line Wear Scar
  • 08:53Volume Analysis: Ion Sputter Crater
  • 10:45Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Weiß Lichtmikroskop Interferometrie ist eine optische, berührungslose und schnelle Methode zur Messung der Topographie von Oberflächen. Es wird gezeigt, wie das Verfahren zur mechanischen Verschleiß Analyse, wo Narben auf tribologische Proben analysiert werden tragen können angewendet werden, und in den Materialwissenschaften zur Ionenstrahlsputtern oder Laserablation Volumen und Tiefe zu bestimmen.

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