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Capitoli
- 00:05Titolo
- 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
- 06:37Capacitance Mode Measurements
- 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
- 10:17Conclusion
Spettroscopia capacitanza singolo elettrone-scanning probe facilita lo studio del moto a singolo elettrone in regioni localizzate sottosuolo. Un circuito di carica-rivelazione sensibile è integrato in una sonda criogenica scansione microscopio per indagare piccoli sistemi di atomi di drogante sotto la superficie dei campioni semiconduttori.
