Rivista
/
Ingegneria
/
Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии
JoVE Journal
Ingegneria
È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo.  Accedi o inizia la tua prova gratuita.
JoVE Journal Ingegneria
Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии

DOI:
10.3791/50676-v

•

10:53 min

•

July 30, 2013

•

, , , , ,
1Department of Physics and Astronomy,Michigan State University, 2Department of Chemistry & Biochemistry/Physics,Mercyhurst University, 3Department of Physics,Saint Louis University, 4Department of Physics,Massachusetts Institute of Technology

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
  • 06:37Capacitance Mode Measurements
  • 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
  • 10:17Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Traduzione automatica

Сканирующего зонда одноэлектронными емкостной спектроскопии облегчает изучение одного движения электронов в локализованных подземных регионах. Чувствительный заряда схема обнаружения включена в криогенных сканирующий зондовый микроскоп для исследования небольших системах атомов легирующей примеси под поверхностью полупроводникового образцов.

Tags

Keywords: Scanning-probeSingle-electronCapacitance SpectroscopyElectronic Quantum StructureSubsurface Charge Accumulation (SCA) ImagingSpatial ResolutionCharge ResolutionHEMTCryogenic Temperatures

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

check_url/it/50676?article_type=v

Фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии при сверхнизких температурах
check_url/it/50676?article_type=v

Квантовая государственный инженерно Света с непрерывной волны параметрических генераторов
check_url/it/50676?article_type=v

Исследуя одну молекулу адгезии методом атомно-силовой микроскопии
check_url/it/50676?article_type=v

Поверхность Enhanced спектроскопии комбинационного рассеяния света обнаружения биомолекул Использование EBL, изготовленных наноструктурированных Субстраты
check_url/it/50676?article_type=v

Кремний Металл-оксид-полупроводниковых квантовых точек для одного электрона Перекачивание
check_url/it/50676?article_type=v

Резонансная спектроскопия комбинационного рассеяния экстремальных нанопроволок и других систем 1D
check_url/it/50676?article_type=v

High Resolution фононами квазирезонанса флуоресцентной спектроскопии
check_url/it/50676?article_type=v

Свободной формы Легкие Приводы - изготовление и контроль Срабатывание в микроскопическом масштабе
check_url/it/50676?article_type=v

Зондирование C<sub> 84</sub> -вложено Si подложки с помощью сканирующей зондовой микроскопии и молекулярной динамики
check_url/it/50676?article_type=v

Применение рентгеновской визуализации спектроскопии кристаллов для использования в качестве высокотемпературной плазмы диагностики

Read Article