Rivista
/
Ingegneria
/
ייצור ואפיון של סיבים אופטיים הפרעות פולימר ללוקליזציה רוחבית אנדרסון אור
JoVE Journal
Ingegneria
È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo.  Accedi o inizia la tua prova gratuita.
JoVE Journal Ingegneria
Fabrication and Characterization of Disordered Polymer Optical Fibers for Transverse Anderson Localization of Light
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

ייצור ואפיון של סיבים אופטיים הפרעות פולימר ללוקליזציה רוחבית אנדרסון אור

DOI:
10.3791/50679-v

•

09:19 min

•

July 29, 2013

•

, , , ,
1Department of Electrical Engineering and Computer Science,University of Wisconsin-Milwaukee, 2Corning Incorporated, Corning, New York

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 01:18Fabrication and Refractive Index Imaging of a Disordered Polymer Optical Fiber
  • 03:31Optical Characterization of Fibers
  • 08:04Results: Characterization of a Disordered Polymer Optical Fiber
  • 08:59Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Traduzione automatica

אנו מפתחים ולאפיין סיב אופטי פולימר הפרעות המשתמש לוקליזציה אנדרסון רוחבית כמנגנון waveguiding רומן. סיבי microstructured זה יכול להעביר קרן מקומית קטנה עם רדיוס כי ניתן להשוות את רדיוס האלומה של סיבים אופטיים קונבנציונליים.

Tags

Disordered Polymer Optical FiberTransverse Anderson LocalizationPMMAPolystyreneRefractive Index ProfileBeam RadiusButt-couplingNear-field OutputNumerical Simulation2D Anderson LocalizationImage TransportOptical Communication

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

ייצור ואפיון של מנחי גלים פוטוניים Crystal להאט את האור וחללים

חפצים מעין אור עבור מנות נתונים אופטיות

דפוסים באמצעות מעברי Saturable אופטיים - ייצור ואפיון

ייצור ותפעול של מסוע ננו-אופטי

כתיבת Gratings בראג בסיבים מרובי-ליבות

עדשה-פחות קומפקטי מיקרוסקופ הולוגרפי הדיגיטלי פיקוח MEMS ואפיון

ייצור הדפסת תאים סולריים heterojunction הגורף<em> באתרו</em> אפיון מורפולוגיה

מתנעים אור בצורה חופשית - ייצור ובקרה של Actuation ב בקנה מידה מיקרוסקופי

ייצור ואפיון של מהודי מוליכים

סריקה אור מפזר Profiler (SLPS) מתודולוגיה מבוססת כדי להעריך כמותית קדימה ואחורה אור פיזור מ עדשות עדשות

Read Article