È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo. Accedi o inizia la tua prova gratuita.
Capitoli
- 00:05Titolo
- 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
- 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
- 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
- 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
- 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
- 09:39Conclusion
Myk landing av masse-valgte ioner mot flatene er en kraftig metode for høyt styrt fremstilling av nye materialer. Sammen med analyse ved in situ sekundær ion massespektrometri (SIMS) og infrarød refleksjon absorpsjon spektroskopi (IRRAS), gir myk landing enestående innsikt i samspillet av veldefinerte arter med overflater.
