È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo. Accedi o inizia la tua prova gratuita.
Capitoli
- 00:05Titolo
- 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
- 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
- 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
- 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
- 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
- 09:39Conclusion
Mjuklandning för mass utvalda joner på ytor är en kraftfull metod för högt kontrollerad framställning av nya material. Tillsammans med analys av in situ sekundär jon masspektrometri (SIMS) och infraröd reflektion absorptionsspektroskopi (IRRAS), ger mjuklandning oanade insikter i samspelet mellan väldefinierade arter med ytor.
