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Cryo-Elektronen-Mikroskopie-Probenvorbereitung mit Hilfe eines Focused Ion Beam
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Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam
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Cryo-Elektronen-Mikroskopie-Probenvorbereitung mit Hilfe eines Focused Ion Beam

DOI:
10.3791/51463-v

•

10:54 min

•

July 26, 2014

•

, , ,
1Department of Engineering Sciences,Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology,Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department,University of Oslo

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 01:25Sample Freezing
  • 03:21Ion Milling
  • 05:56Cryo Transfer to TEM
  • 08:54Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy
  • 10:20Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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Cryo Elektronenmikroskope, entweder Scanning (SEM) oder Transmission (TEM), werden häufig für die Charakterisierung von biologischen Proben oder anderen Materialien mit einem hohen Wassergehalt 1 verwendet wird. Eine SEM / Focused Ion Beam (FIB) wird verwendet, um Merkmale von Interesse in Proben zu identifizieren und extrahieren eine dünne, elektronentransparenten Lamellen für die Übertragung auf eine Kryo-TEM.

Tags

Keywords: Cryo-electron MicroscopyFocused Ion BeamSpecimen PreparationAspergillus NigerCryo-TEMCryo-SEMLamella ExtractionTEM GridElectron TransparencyCryo-transfer StationNanomanipulatorContamination

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