/

/

Karakterisering van Anisotropisch Leaky Mode Modulators voor Holovideo

JoVE Journal
Ingegneria

È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo. Accedi o inizia la tua prova gratuita.

JoVE Journal Ingegneria

Characterization of Anisotropic Leaky Mode Modulators for Holovideo

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Karakterisering van Anisotropisch Leaky Mode Modulators voor Holovideo

DOI:

10.3791/53889-v

•

09:36 min

•

March 19, 2016

•

Scott Gneiting, Jacob Kimball, Andrew Henrie, Stephen McLaughlin, Taylor DeGraw, Daniel Smalley

¹Electrical Engineering,Brigham Young University

Capitoli

00:05Titolo
00:55Mounting the Leaky Mode Modulator on a Breakout Board and Prism Coupling
03:25Preparing the Device in the Characterization Apparatus
06:53Performing the Test
07:34Results: Characterization of a Leaky Mode Modulator
08:50Conclusion

Summary

Traduzione automatica

This work describes fabrication and characterization of anisotropic leaky mode modulators for holographic video.

Tags

Anisotropic Leaky Mode Modulators Holographic Video Spatial Light Modulators Frequency Response Angular Output Guided Leaky Mode Transitions Optimization Requirements Visual Demonstration Radio Frequency Breakout Board Superglue U-shaped Platform Double-sided Tape Wire Bonding Prism Coupling

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

Ontwikkeling van Whispering Gallery Mode Polymeer Micro-optische Electric Field Sensors

Magnetron Fotonica Systemen op basis van Whispering-gallery-mode resonatoren

Fabricage en karakterisering van wanordelijke polymeer optische vezels voor Transversale Anderson lokalisatie van Licht

Constructie en karakterisering van externe Cavity Diode Lasers voor Atomic Physics

Mechanische Uitbreiding van stalen buizen als een oplossing voor lekkende boorputten

Electron Channeling Contrast Imaging voor Rapid III-V hetero karakterisatie

Gestimuleerde Stokes en Antistokes Raman Scattering in microsferische Whispering Gallery Mode Resonators

Karakterisering van Ultra-fijnkorrelige en nanokristallijne materialen met behulp van Transmission Kikuchi Diffraction

Een nieuwe methode voor<em> In situ</em> Elektromechanische Karakterisering van Nanoscale Exemplaren

Ultrasone vermoeidheid in de modus van de spanning-compressie testen

Read Article