Quantitative Hardness Measurement by Instrumented AFM-indentation

00:05Titolo
00:34AFM Instrument Set-up and Calibration
02:47Quantitative Hardness Measurement Procedure
06:24Results: Calculation of the Projected Area of an AFM Indent on an Atomically Smooth Gold Thin-film Surface
07:29Conclusion

Summary

Traduzione automatica

This experimental protocol describes how atomic force microscopy can be used to measure hardness at the true nanometer scale and to detect single atomistic plasticity events.

מדידת קשיות כמוני יד מאובזרת AFM-הזחה

•

•

•

Capitoli

Summary

Traduzione automatica

Tags

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

טוען מלכודת אופטית של דיאלקטרי microparticles באוויר

שיטה סטנדרטית למדידת יעילות גבייה נגב-דגימה של חומרי נפץ Trace

מיקרו / ננו בקנה מידה זן הפצה מדידה מדגימה Moiré שוליים

דור של פולי שבשליטת גודל (אתילן גליקול) Diacrylate טיפות דרך דו-תלת-ממדי לזרום התמקדות Microfluidic מכשירים

אנליזה כמותית של אינדוקציה ואקום התכה על-ידי ספקטרוסקופיית לייזר המושרה

מדידת הזחה אקראית על-ידי שילוב סולם מגנטי ושני בראג בלגים

ניתוח כמותי על-ידי ניתוח הספקטרום Thermogravimetry-המונית לתגובות עם גזים מפותחת

הליכי גזירה, בדיקות מתיחה, ו ההזדקנות של ציפויים חד כיווני חד-כיווני מרוכבים

פיתוח שיטה עבור מדעי החלל ללא מגע מכשירים ספקטרוסקופיים הדיאלקטרי של הנייר תאית

הליכי כיול עבור ריאולוגיית סופרפוזיציה אורתוגונלית

Read Article