Rivista
/
/
Sub-nanometer Resolution Imaging med amplitudmodulering atomkraftsmikroskopi i Liquid
JoVE Journal
Ingegneria
This content is Free Access.
JoVE Journal Ingegneria
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid
DOI:

10:25 min

December 20, 2016

, , , , ,

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 00:59Equipment and Substrate Preparation
  • 02:39Cantilever and Tip Preparation
  • 03:22Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration
  • 04:27Approach and Initial Check of the Sample
  • 06:31High-resolution Imaging
  • 08:09Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples
  • 09:18Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Vi presenterar en metod för att uppnå upplösning sub-nanometer med amplitud-modulering (gängläge) atomkraftsmikroskopi i vätska. Metoden demonstreras på kommersiella Atomkraftsmikroskopi. Vi förklarar logiken bakom våra val av parametrar och föreslå strategier för upplösning optimering.

Video correlati

Read Article