Rivista
/
Ingegneria
/
Precision Fräsning av Nanorör skogar Använda Lågtrycks Svepelektronmikroskopi
JoVE Journal
Ingegneria
È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo.  Accedi o inizia la tua prova gratuita.
JoVE Journal Ingegneria
Precision Milling of Carbon Nanotube Forests Using Low Pressure Scanning Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Precision Fräsning av Nanorör skogar Använda Lågtrycks Svepelektronmikroskopi

DOI:
10.3791/55149-v

•

08:10 min

•

February 05, 2017

•

, ,
1Department of Mechanical & Aerospace Engineering,University of Missouri

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 01:02Carbon Nanotube (CNT) Forest Sample and Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) Preparation
  • 03:52SEM Setup in Low Pressure Water Vapor
  • 05:10CNT Forest Milling
  • 06:47Results: Precision Milling of Carbon Nanotube Forests
  • 07:46Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Traduzione automatica

Low pressure scanning electron microscopy in a water vapor ambient is used to machine nanoscale to microscale features in carbon nanotube forests.

Tags

Keywords: Carbon NanotubesPrecision MillingLow Pressure Scanning Electron MicroscopyCNT ForestsMaterial Characterization3D FeaturesGrapheneDiamondBiological Cells

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

check_url/it/55149?article_type=v

Tillverkning, Förtätning och Replica Formning av 3D mikrostrukturer Nanorör
check_url/it/55149?article_type=v

Torr Oxidation och vakuum härdningsbehandlingar för avstämning av vätningsegenskaperna hos Arrays Nanorör
check_url/it/55149?article_type=v

Syntes och funktionalisering av kväve-dopade Cups kolnanorör med guld nanopartiklar som korkar
check_url/it/55149?article_type=v

Syntes och Microdiffraction vid extrema tryck och temperaturer
check_url/it/55149?article_type=v

Scanning-sond Single-elektron kapacitans spektroskopi
check_url/it/55149?article_type=v

Tillverkning av låg temperatur Nanorör Vertikala Kopplingar Kompatibel med Semiconductor Technology
check_url/it/55149?article_type=v

I Djup Analyser av lysdioder genom en kombination av röntgen Computed Tomography (CT) och ljusmikroskop (LM) korrelerad med svepelektronmikroskop (SEM)
check_url/it/55149?article_type=v

Probing C<sub> 84</sub> -embedded Si substrat med användning av svepspetsmikroskopi och Molecular Dynamics
check_url/it/55149?article_type=v

Studera dynamiska processer av Nano stora objekt i Liquid använder Scanning transmissionselektronmikroskopi
check_url/it/55149?article_type=v

Mätningar av kol i marken av Neutron-Gamma analys i statisk och Scanning lägen

Read Article