Rivista
/
/
Plasmonische Trapping en het vrijkomen van nanodeeltjes in een Monitoring Milieu
JoVE Journal
Ingegneria
È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo.  Accedi o inizia la tua prova gratuita.
JoVE Journal Ingegneria
Plasmonic Trapping and Release of Nanoparticles in a Monitoring Environment
DOI:

09:13 min

April 04, 2017

,

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 00:47Manufacturing the PDMS Microchannel
  • 01:56Etching a Nanohole into a Gold Plate
  • 04:12Microchip Assembly
  • 05:21Laser Coupling and Insertion of the SMF Cable to the Microchip
  • 06:39Plasmonic Trapping of Single Fluorescent Polystyrene Particles
  • 07:53Results: Trapping and Releasing of Fluorescent Polystyrene Particles
  • 08:29Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Een microchip fabricageproces dat plasmonische pincet opgenomen wordt hier gepresenteerd. De microchip maakt het afbeelden van een gevangen deeltje trapping maximale krachten meten.

Video correlati

Read Article