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Um novo método para<em> In Situ</em> Caracterização eletromecânica de amostras de nanoescala
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A Novel Method for In Situ Electromechanical Characterization of Nanoscale Specimens

Um novo método para<em> In Situ</em> Caracterização eletromecânica de amostras de nanoescala

DOI:
10.3791/55735-v

•

07:15 min

•

June 02, 2017

•

, ,
1Materials Science and Technology Division,US Naval Research Laboratory, 2American Society for Engineering Education—Naval Research Laboratory (ASEE-NRL), 3Leidos Corporation

Capitoli

  • 00:05Titolo
  • 00:45Microfabrication of Silicon Frames
  • 02:13Laser Patterning of Metal Copper Specimens
  • 03:38Microdevice-based Electromechanical Testing Systems (MEMTS) Assembly
  • 04:38In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM) Experiments
  • 05:52Results: In Situ Electromechanical Characterization of a Single-crystal Copper Specimen
  • 06:50Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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Isolar os efeitos elétricos e térmicos na deformação eletricamente assistida (EAD) é muito difícil usando amostras macroscópicas. As microorganismos e as nanoestruturas de amostras metálicas, juntamente com um procedimento de teste personalizado, foram desenvolvidas para avaliar o impacto da corrente aplicada na formação sem aquecimento de joule e evolução das luxações sobre essas amostras.

Tags

NanoscaleTEMIn-situElectromechanical CharacterizationSilicon WaferDeep Reactive Ion EtchingSilicon DioxideCopper FoilPhotoresistLaser CuttingFerric Chloride

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